습식 벤치 카드 읽기 — 약액 모니터·온도 로그·린스 로그·검사 이력은 각각 무엇을 말하나

·6분 읽기

플라즈마 미션을 먼저 풀고 습식 미션을 열면 카드 이름이 낯섭니다. RF 도 압력도 없고 「약액 모니터」 「린스 로그」 같은 카드가 있습니다. 하지만 읽는 문법은 같습니다. 레시피가 요구한 값(SP) 과 계기가 읽은 값(PV) 을 나란히 놓고, 결과가 웨이퍼 어디에 나타났는지를 검사 카드에서 확인합니다.

이 글은 습식 벤치의 계기를 도면에 놓고, 각 카드의 행이 어느 계기에서 나온 기록인지를 설명합니다. 미션의 답은 없습니다.

석영 약액조에 담긴 웨이퍼 카세트와 옆의 DI 린스 조 — AI 생성 참고 이미지(실제 장비 사진이 아닙니다)
석영 약액조에 담긴 웨이퍼 카세트와 옆의 DI 린스 조 — AI 생성 참고 이미지(실제 장비 사진이 아닙니다)그림을 누르면 원본 크기로 열립니다

1. SC-1 이 하는 일

SC-1(Standard Clean 1, APM 이라고도 부릅니다)은 암모니아수·과산화수소·초순수를 섞은 약액으로, 가열한 조에 웨이퍼를 담가 파티클과 유기물 을 제거하는 세정입니다. 과산화수소가 표면을 아주 얇게 산화시키고 암모니아수가 그 산화막을 살짝 녹이는 일이 반복되면서, 표면에 붙어 있던 입자가 떠서 떨어집니다. 입자와 표면이 같은 부호로 대전되어 다시 붙지 않는 것도 한몫합니다.

그래서 세정의 성능은 조성(혼합비)·온도·시간 세 가지가 정합니다. 레시피는 이 셋을 숫자로 적고, 벤치의 계기는 이 셋을 읽습니다. 뒤이어 초순수(DI) 린스로 약액을 씻어 내고 건조합니다.

습식 벤치 — SC-1 조(TIC 온도 제어·AIC 농도 모니터·순환 필터)와 린스 조(QIC 저항률·파티클 카운터)
습식 벤치 — SC-1 조(TIC 온도 제어·AIC 농도 모니터·순환 필터)와 린스 조(QIC 저항률·파티클 카운터)그림을 누르면 원본 크기로 열립니다

2. 카드 ① 레시피 세팅값

습식 미션의 레시피 카드 — 혼합비·온도·시간·린스 조건이 SP 로 적혀 있다
습식 미션의 레시피 카드 — 혼합비·온도·시간·린스 조건이 SP 로 적혀 있다그림을 누르면 원본 크기로 열립니다

플라즈마 미션의 세팅값 카드와 같은 자리입니다. 혼합비, 조 온도, 침지 시간, 린스 시간이 SP 로 적혀 있습니다. 다른 카드의 PV 는 전부 이 카드와 대조합니다.

3. 카드 ② 약액 모니터 (농도 분석기)

조에는 약액의 농도를 읽는 농도 모니터(AIC) 가 붙어 있습니다. 전도도·흡광·적정 등 방식은 벤치마다 다르지만, 카드에는 성분별 농도가 레시피 대비로 찍힙니다.

읽을 때는 플라즈마 미션의 가스 리드백 카드와 같은 눈으로 봅니다. 레시피가 요구한 조성(SP)과 조 안의 조성(PV)이 같은가. 같으면 「약액은 레시피대로였다」까지 확정되고, 다르면 무엇이 달랐는지가 다음 질문입니다. 습식 약액은 한 번 섞어 여러 Lot 을 처리하므로, 지난 Lot 과 이번 Lot 의 PV 를 비교하는 것도 같은 의미가 있습니다.

4. 카드 ③ 온도 로그

온도 로그 카드 — 조 온도의 SP 와 PV. 세정 속도는 온도에 민감하다
온도 로그 카드 — 조 온도의 SP 와 PV. 세정 속도는 온도에 민감하다그림을 누르면 원본 크기로 열립니다

조 온도는 히터와 온도 센서(TIC) 가 폐루프로 맞춥니다. 압력 루프와 같은 구조입니다 — 센서가 읽은 값을 세팅에 맞추는 것이지, 조 안 모든 곳의 온도를 보증하는 것은 아닙니다. 세정의 화학 반응 속도는 온도에 민감해서, 몇 도의 차이가 세정 시간과 같은 효과를 냅니다. 카드의 PV 가 SP·baseline 과 같은지 봅니다.

5. 카드 ④ 린스 로그

린스 로그 카드 — DI 저항률과 린스 시간. 저항률은 초순수의 순도를 말한다
린스 로그 카드 — DI 저항률과 린스 시간. 저항률은 초순수의 순도를 말한다그림을 누르면 원본 크기로 열립니다

린스 조에는 저항률계(QIC) 가 있습니다. 초순수는 이온이 거의 없어 저항률이 높고(18 MΩ·cm 근처), 약액이나 불순물이 섞이면 떨어집니다. 린스 로그의 저항률이 정상이면 「씻어 낸 물은 깨끗했다」까지 확정됩니다. 린스 시간도 레시피와 대조합니다.

6. 카드 ⑤ 검사 이력 — 결과는 여기 나타난다

세정의 결과는 파티클 검사 에 나타납니다. 광학 검사나 파티클 카운터로 웨이퍼 위 입자 수를 세고, Lot 별 추이로 관리합니다. 입자 수가 관리 한계를 넘은 Lot 이 「증상」이고, 그 Lot 의 세정 조건이 위의 카드들입니다.

검사 카드도 「얼마나」만 말합니다. 입자가 어디서 왔는지 (세정 전부터 있었는지, 세정이 못 뗀 것인지, 린스·건조에서 다시 붙은 것인지)는 이 카드 혼자 말하지 못합니다. 앞 공정 이력·입고 시편·세정 조건을 교차해야 합니다. 플라즈마 미션의 단면 카드와 같은 역할입니다.

7. 읽는 순서

  1. 레시피 카드에서 SP(조성·온도·시간·린스)를 확인합니다.
  2. 약액 모니터·온도 로그·린스 로그의 PV 를 SP 와 지난 Lot 둘 다와 비교합니다. 습식은 약액을 여러 Lot 이 공유하므로 「지난 Lot 대비」가 의미를 가집니다.
  3. 검사 이력에서 증상이 언제부터 나타났는지(한 Lot 인지, 추세인지)를 봅니다.
  4. 앞 공정 이력과 입고 시편을 봅니다 — 세정은 「붙은 것을 떼는」 공정이라 들어온 웨이퍼 상태가 결과의 절반입니다.
  5. 조건 중 달라진 것이 있다면 그 변화가 검사 추세와 시점이 맞는지 확인합니다. 시점이 안 맞는 가설은 면접관이 되묻습니다.
습식 벤치 장비 화면 — 조치를 고르면 열린다. 노브는 미션의 기준 세팅으로 뜬다
습식 벤치 장비 화면 — 조치를 고르면 열린다. 노브는 미션의 기준 세팅으로 뜬다그림을 누르면 원본 크기로 열립니다

용어

  • SC-1 (APM) — NH₄OH : H₂O₂ : H₂O 혼합 약액으로 파티클·유기물을 제거하는 세정. 가열 조에서 침지.
  • 농도 모니터 (AIC) — 조 안 약액의 성분 농도를 읽는 분석기. 카드 「약액 모니터」의 출처.
  • TIC — 온도 지시 제어. 히터와 센서의 폐루프. 카드 「온도 로그」의 출처.
  • 저항률 (QIC) — 초순수의 순도 지표(MΩ·cm). 이온이 섞이면 떨어진다. 카드 「린스 로그」의 출처.
  • 파티클 카운터 — 웨이퍼 위 입자 수를 세는 검사. 카드 「검사 이력」의 출처.

이 글이 쓰이는 미션

아래 미션은 지금 열심히 준비하고 있습니다. 문이 열리는 대로 이 자리에 구매 링크를 달아 두겠습니다. 기다리는 동안 #01·#02 를 먼저 풀어 보셔도 좋습니다 — 같은 7단계라 그대로 이어집니다.

  • #03 습식 세정 파티클 (출시 준비 중)

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